SRAM型FPGA的基于可观性度量的选择性三模冗余方法

作     者：王子龙 郑美松 涂吉 王骏也 李立健 Wang Zilong;Zheng Meisong;Tu Ji;Wang Junye;Li Lijian

作者机构：中国科学院自动化研究所集成电路设计中心北京100190 

基　　金：国家自然科学基金(61073035) 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2015年第27卷第11期

页      码：2184-2191页

摘      要：为了增强SRAM型FPGA抗单粒子翻转破坏的能力并减少硬件开销,提出一种面向查找表的基于可观性度量的选择性三模冗余方法.首先定义查找表发生单粒子翻转(SEU)故障的一种可观性概念,并结合概念给出理论计算公式;然后根据计算出的查找表可观性分布筛选出SEU敏感查找表;最后插入相应的冗余电路.此方法能够以较小的冗余比例,使得电路的抗SEU性能接近全三模冗余的效果.对MCNC’91的18个规模不同的电路进行实验的结果表明,文中方法平均只需要冗余37%的查找表,并且冗余后电路的抗SEU性能为92.6%,相比全三模冗余节省了63%的硬件开销,说明该方法能够在有效地提高电路的抗SEU性能前提下取得显著的硬件节省效果.

主 题 词：FPGA 三模冗余 单粒子翻转 可观性 MCNC 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

馆 藏 号：203248621...