深亚微米SoC中的电源/地网络设计

作     者：时昕 王东辉 侯朝焕 

作者机构：中国科学院声学研究所 

基　　金：国家"973"重点基础研究项目资助(G1999032902) 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2004年第21卷第12期

页      码：198-202,206页

摘      要：随着芯片集成度的不断提高,其上所消耗的功率也在不断增加,因此,电源/地网络设计的可靠性与有效性就成为了SoC设计中一个关键性的问题。以往的设计中,通常都是由设计师根据经验进行电源/地网络的设计,因而可能导致设计效率的降低,延长了芯片的上市时间。针对这个问题,本文首先介绍了IR压降和电迁移现象的产生原因及其影响因素。其次,提出了一种方法,在芯片物理设计的初始阶段,就对其电源/地网络进行可靠的估算,并在估算的基础上进行电源/地网络的设计,从而在设计的早期确保了电源分配的可靠性,提高了设计效率。最后,本文通过一个DSP&CPU芯片的设计实例,介绍了该方法的使用,并获得了良好的效果。

主 题 词：电源分配 电源网络 电迁移 IR压降 信号完整性 可靠性 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-7180.2004.12.052

馆 藏 号：203249747...