基于单片机AT89C52的漏磁检测实验系统开发

作     者：郭众宝 孙远翔 唐永刚 GUO Zhong-Bao;SUN Yuan-Xiang;TANG Yong-Gang

作者机构：北京理工大学机电工程学院北京100813 

出 版 物：《机电产品开发与创新》 (Development & Innovation of Machinery & Electrical Products)

年 卷 期：2005年第18卷第1期

页      码：98-100页

摘      要：本文介绍了基于单片机技术的漏磁检测系统。首先介绍了漏磁检测的原理,然后结合电子电路技术,单片机技术,开发了一套漏磁检测实验系统。该系统包括信号的采集,预处理,模/数转换,数据结果存储,数据串口发送。单片机的软件系统采用模块化设计,分为数据采集、数据存储、数据串口发送模块等。

主 题 词：漏磁检测 AT89C52 铁电存储器 FM1808 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-6673.2005.01.037

馆 藏 号：203254483...