看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >影响轨道电路性能的主要因素为道床漏泄电阻 收藏
影响轨道电路性能的主要因素为道床漏泄电阻

影响轨道电路性能的主要因素为道床漏泄电阻

作     者:田卫东 

作者机构:中国铁建大桥工程局集团电气化工程有限公司 

出 版 物:《电气应用》 (Electrotechnical Application)

年 卷 期:2017年第36卷第12期

页      码:17-18页

摘      要:随着高速铁路列车设计时速的不断提高,铁路区间线路曲线半径越来越大,线路中特大桥、特长隧道所占比例越来越大。隧道内信号系统轨道电路方案选型已经成为一个较有争议的问题。 根据《关于规范ZPW-2000自动闭塞上道管理工作的通知》文件要求,目前国内铁路自动闭塞区间采用的轨道占用检查和机车信号传输方案一般为ZPW-2000型一体化轨道电路方案,一个闭塞分区采用按一段轨道电路考虑。

主 题 词:轨道电路 电路性能 自动闭塞区间 电阻 漏泄 道床 铁路列车 区间线路 

学科分类:08[工学] 082302[082302] 0823[工学-农业工程类] 

馆 藏 号:203254662...

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分