Nd∶GGG晶体荧光寿命的测试及受激发射截面的计算

作     者：李昌立 孙晶 曾繁明 李建利 万玉春 刘景和 LI Chang-li;SUN Jing;ZENG Fan-ming;LI Jian-li;WAN Yu-chun;LIU Jing-he

作者机构：长春理工大学理学院吉林长春130022 

出 版 物：《光学技术》 (Optical Technique)

年 卷 期：2006年第32卷第2期

页      码：193-195页

摘      要：介绍了荧光寿命的测试原理。设计了荧光寿命测试系统。利用脉冲取样技术测试了Nd∶GGG晶体的荧光寿命,约为250μs。采用英国的荧光光谱仪,在室温条件下,用波长为488nm的Ar离子激光器激发Nd:GGG晶体,获得了Nd:GGG晶体的荧光光谱,计算出的Nd∶GGG晶体的受激发射截面σ(λ)为21.57×10-20cm2。

主 题 词：Nd:GGG晶体 荧光寿命 荧光光谱 受激发射截面 

学科分类：07[理学] 070205[070205] 08[工学] 080501[080501] 070203[070203] 0805[工学-能源动力学] 0703[理学-化学类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1002-1582.2006.02.020

馆 藏 号：203254957...