看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >中芯国际采用Cadence DFM解决方案用于65nm和45nm IP... 收藏
中芯国际采用Cadence DFM解决方案用于65nm和45nm IP/库开发和全芯片生产

中芯国际采用Cadence DFM解决方案用于65nm和45nm IP/库开发和全芯片生产

出 版 物:《电子与电脑》 (Compotech)

年 卷 期:2009年第9卷第11期

页      码:105-105页

摘      要:Cadence设计系统公司宣布,中芯国际采用了Cadence Litho Physical Analyzer与Cadence Litho Electrical Analyzer,从而能够更准确地预测压力和光刻差异对65和45纳米半导体设计性能的影响。Cadence Litho Electrical Analyzer一半导体行业第一个用于各大领先半导体公司从90nm-40nm生产中的DFM电气解决方案一与Cadence Litho Physical Analyzer结合,形成了一个能精确预测最终硅片结果的流程。

主 题 词:Cadence设计系统公司 芯片生产 DFM Analyzer 国际 开发 纳米半导体 半导体公司 

学科分类:080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号:203256245...

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分