TFT-LCD面影像残留改善研究

作     者：彭毅雯 徐伟 罗毅 韩彦军 PENG Yi-wen;XU Wei;LUO Yi;HAN Yan-jun

作者机构：清华大学电子工程系北京100084 北京京东方光电科技有限公司北京100176 

出 版 物：《液晶与显示》 (Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays)

年 卷 期：2012年第27卷第1期

页      码：66-69页

摘      要：影像残留是一种TFT-LCD屏的固有特性。主要是由于长时间显示静态画面时液晶材料的极化敏感性造成的。这种极化影响了液晶材料的光学特性,并阻止液晶分子完全恢复到正常松弛状态。本文主要探讨了通过改变TFT设计来改善面影像残留现象的方案。通过设计实验变更TFT-LCD的主要参数(Pixel设计、Aperture Ratio、ΔVp等),提出了4种面影像残留改善方案并制作了样品。对这4种改善方案的试制样品进行了TFT-LCD面影像残留水平测量和评价,分析了各像素设计因素对面影像残留水平的影响;同时对试制样品的画面品质进行了评价,为解决相关画面品质问题对该方案进行了设计优化,最终获得了一种较佳的面影像残留改善方案。

主 题 词：液晶显示器 影像残留 存储电容 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3788/yjyxs20122701.0066

馆 藏 号：203257309...