星载计算机SRAM单粒子微闩锁检测方法

作     者：刘沛龙 常亮 陈宏宇 谭竹慧 Liu Peilong;Chang Liang;Chen Hongyu;Tan Zhuhui

作者机构：中国科学院上海微系统与信息技术研究所上海200050 上海微小卫星工程中心上海201203 中国科学院大学北京101407 

出 版 物：《天津大学学报（自然科学与工程技术版）》 (Journal of Tianjin University：Science and Technology)

年 卷 期：2017年第50卷第8期

页      码：856-861页

摘      要：静态随机存储器(SRAM)的单粒子微闩锁(mSEL)现象可能引起星载计算机运行崩溃,威胁整星运行安全.传统的闩锁电流检测方法难以发现mSEL,国内外研究成果至今没有给出令人满意的具体可行的星上mSEL检测方案,也没有航天工程应用实例.根据SRAM发生mSEL时的错误簇现象,设计了基于EDAC编解码的mSEL检测方案,介绍了软硬件架构,提出了两种检测策略并研究讨论了其性能.其中遍寻策略实现简单、性能稳定,随机搜索策略实现开销大,在某些场景中90%,检出率的要求下,检测速度达到遍寻策略的8.5倍.本文提出的方法能够提高空间应用中SRAM器件可靠性,降低由mSEL引发的系统失效概率.

主 题 词：星载计算机 SRAM 闩锁 微闩锁 单粒子微闩锁 

学科分类：07[理学] 08[工学] 070104[070104] 081101[081101] 0701[理学-数学类] 0811[工学-水利类] 

核心收录：

D　O　I：10.11784/tdxbz201605106

馆 藏 号：203260418...