基于边带-频率调制的磁力显微镜技术研究

作     者：李正华 李翔 乔亮 LI Zheng-hua;LI Xiang;QIAO Liang

作者机构：大连民族大学物理与材料工程学院辽宁大连116600 上海理工大学材料科学与工程学院上海200093 兰州大学物理科学与技术学院甘肃兰州730000 

基　　金：国家自然科学基金青年基金资助项目(61103148) 辽宁省自然科学基金资助项目(2015020072) 大连民族大学自主科研基金资助项目(DC201502080303 DC201501074) 2015年度留学人员科技活动项目择优资助项目 

出 版 物：《磁性材料及器件》 (Journal of Magnetic Materials and Devices)

年 卷 期：2017年第48卷第5期

页      码：15-20,72页

摘      要：基于磁探针的边带-频率调制机理,建立了高频场磁力显微镜方法(high frequency field magnetic force microscopy method,HFF-MFM),实现了对高频磁场的动态观测。首先建立了MFM探针的力学、磁学模型,依据MFM探针的频谱测量结果,系统研究了MFM探针的边带-频率调制机理;其次,利用高频信号处理模块对探针的调制信号进行解调、提取,理论分析结合实验设计,完成了对高频磁场的直接测量。实现对纳米结构中1MHz以上磁场的直接测量。该方面的工作是MFM研究领域的一个重要进展,为进一步发展纳米尺度磁畴结构的相关精密测量技术奠定了基础。

主 题 词：磁力显微镜 边带-频率调制 高频磁场测量 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.19594/j.cnki.09.19701.2017.05.003

馆 藏 号：203262362...