Xilinx低等级FPGA高可靠应用的升级试验方法研究

作     者：刘迎辉 朱恒静 张大宇 唐民 宁永成 段超 LIU Ying-hui;ZHU Heng-jing;ZHANG Da-yu;TANG Min;NING Yong-cheng;DUAN Chao

作者机构：中国空间技术研究院北京100029 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2014年第32卷第1期

页      码：11-17页

摘      要：随着微电子设计与制造水平的不断提高,部分低质量等级集成电路逐渐地具备了应用于高可靠性要求的军事和宇航领域的能力。Xilinx FPGA作为高性能逻辑器件的典型代表,具有较高的设计和工艺成熟度,在军事和宇航领域有着广阔的应用前景。全面梳理了Xilinx FPGA质量等级的定义规则,详细介绍了Xilinx不同质量等级FPGA的厂家保证情况,提出了Xilinx低质量等级FPGA面向高可靠应用的升级试验方法。

主 题 词：现场可编程门阵列 低等级 高可靠性 升级试验 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2014.01.003

馆 藏 号：203263359...