一种能有效降低Memory BIST功耗的方法

作     者：袁秋香 方粮 李少青 刘蓬侠 余金山 徐长明 Yuan Qiuxiang;Fang Liang;Li Shaoqing;Liu Pengxia;Yu Jinshan;Xu Changming

作者机构：国防科学技术大学计算机学院并行与分布重点实验室长沙410073 

基　　金：国家"八六三"高技术研究与发展计划基金项目(2011BAH04B05) 

出 版 物：《计算机研究与发展》 (Journal of Computer Research and Development)

年 卷 期：2012年第49卷第S1期

页      码：94-98页

摘      要：随着系统芯片(SoC)上存储器比重的日趋增加和Memory BIST(memory built-inself-test)的广泛应用,对较低测试功耗的嵌入式Memory BIST的设计要求越来越高,因为测试功耗一般为系统正常工作时的两倍多,而过高的功耗会烧毁电路和降低芯片成品率.通过采用按时钟域划分存储器组和串并结合的方法来降低Memory BIST的测试功耗.实验仿真结果表明,用该方法所得的最大功耗只有传统方法的1/14,可见该方法能有效降低测试时的能量损耗.

主 题 词：Memory BIST 时钟域 串并结合 最大功耗 

学科分类：08[工学] 0812[工学-测绘类] 

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馆 藏 号：203263914...