双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的处理程序设计

作     者：蒋大文 王志远 谢驰 王晓辉 杨大磊 JIANG Da wen,WANG Zhi yuan,XIE Chi,WANG Xiao hui,YANG Da lei (Dept. of Measurement and Control Eng.,Sichuan Univ.,Chengdu 610065,China)

作者机构：四川大学测试技术与控制工程系四川成都610065 

出 版 物：《四川大学学报（工程科学版）》 (Journal of Sichuan University (Engineering Science Edition))

年 卷 期：2001年第33卷第5期

页      码：98-101页

摘      要：介绍了用双管显微镜测量轮廓线坐标值的方法 ,同时 ,设计了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。从而 ,扩大了只用于测量单参数的表面粗糙度检查仪的使用功能 ,以满足表面粗糙度国家标准所规定的评定参数的要求。还给出了程序流程图。实验表明 。

主 题 词：表面粗糙度 双管显微镜 评定参数 微机处理 程序设计 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 0803[工学-仪器类] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1009-3087.2001.05.026

馆 藏 号：203264705...