寄生电感对SiC MOSFET开关特性的影响

作     者：秦海鸿 朱梓悦 戴卫力 徐克峰 付大丰 王丹 QIN Haihong;ZHU Ziyue;DAI Weili;XU Kefeng;FU Dafeng;WANG Dan

作者机构：南京航空航天大学多电飞机电气系统工业和信息化部重点实验室南京211106 河海大学江苏省输配电装备技术重点实验室常州213022 

基　　金：国家自然科学基金(51677089)资助项目 中央高校基本科研业务费专项资金(NS2015039 NS20160047)资助项目 江苏省普通高校研究生科研创新计划(SJLX16_0107)资助项目 

出 版 物：《南京航空航天大学学报》 (Journal of Nanjing University of Aeronautics & Astronautics)

年 卷 期：2017年第49卷第4期

页      码：531-539页

摘      要：随着开关频率的增大,寄生电感对碳化硅(SiC)器件动态开关过程的影响程度也越来越大,无法充分发挥其高速开关下低开关损耗的性能优势。本文采用理论定性分析与实验定量研究相结合的方法,考虑相关寄生电感,对SiC MOSFET基本开关电路建立数学模型,确立影响开关特性的主要因素,然后通过SiC器件高速电路双脉冲测试平台,对各部分寄生电感对SiC器件开关性能的影响进行系统研究,揭示寄生电感对SiC MOSFET开关特性的影响规律。在此基础之上,根据SiC高速开关电路实际布局的限制,在布局紧凑程度或回路走线总长度相对不变的情况下,对各部分寄生电感的匹配关系进行研究,归纳出SiC器件开关过程受寄生参数影响的特性规律,从而指导SiC基高速开关电路的优化布局设计。

主 题 词：电力电子 碳化硅 寄生电感 匹配关系 布局设计 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 0802[工学-机械学] 0825[工学-环境科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.16356/j.1005-2615.2017.04.012

馆 藏 号：203269122...