边界扫描技术及其在电路板级测试应用

作     者：张琳 周拥军 刘冲 武飞 ZHANG Lin;ZHOU Yongjun;LIU Chong;WU Fei

作者机构：中航工业洛阳电光设备研究所河南洛阳471009 

出 版 物：《电光与控制》 (Electronics Optics & Control)

年 卷 期：2009年第16卷第2期

页      码：60-63页

摘      要：介绍了边界扫描测试技术的基本原理,提出了边界扫描技术的板级测试策略和整体测试流程,并对扫描链路设计中的具体问题进行分析,最后结合可测试性设计提出了电路板设计时应遵循的原则。

主 题 词：边界扫描 板级测试 可测试性设计 JTAG 

学科分类：08[工学] 082503[082503] 0825[工学-环境科学与工程类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-637X.2009.02.017

馆 藏 号：203271224...