基于单片机的X射线测厚仪数据采集系统设计

作     者：汤代斌 李蔚森 杨浩 TANG Daibin;LI Weisen;YANG Hao

作者机构：安徽机电职业技术学院安徽芜湖241000 马鞍山恒瑞测量设备有限公司安徽马鞍山243000 

基　　金：安徽省高校自然科学研究项目(KJ2011Z047) 

出 版 物：《安徽工业大学学报（自然科学版）》 (Journal of Anhui University of Technology（Natural Science）)

年 卷 期：2013年第30卷第2期

页      码：174-177页

摘      要：传统的X射线测厚仪采用工业控制计算机实现数据采集与处理功能,针对其系统结构复杂、成本高的缺点,提出基于高速单片机的数据采集与处理方案。以C8051F060高速单片机为核心芯片,对HRX-40型X射线测厚仪的数据采集与处理系统进行软硬件设计,X射线探头将衰减后的X射线转换为电流信号,经高灵敏度的电流放大器AD549放大后,由轨到轨高速运算放大器LT1806构成的电压跟随器送到单片机的16位ADC输入通道进行电压采样,采样后的数据由单片机处理后得到被测板材厚度值,再由增强型UART串口输出至LED显示屏实时显示。通过所制作样机的实验数据验证了设计的正确性和可行性。

主 题 词：X射线 数据采集 C8051单片机 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-7872.2013.02.016

馆 藏 号：203273290...