二单元圆极化微带天线阵列中介质边缘效应仿真实验分析

作     者：张春华 厉璐慧 曹振新 

作者机构：中电科技扬州宝军电子有限公司扬州225003 东南大学毫米波国家重点实验室南京210096 

基　　金：毫米波国家重点实验室创新基金(Z201205) 江苏省科技成果转化专项资金项目资助(BA2012106) 

出 版 物：《微波学报》 (Journal of Microwaves)

年 卷 期：2013年第29卷第3期

页      码：31-35页

摘      要：紧凑型双馈圆极化微带天线阵列在E面和H面存在严重互耦,会导致天线阵列的整体性能显著下降。为此,设计了二单元圆极化微带天线阵列,建立了参数化HFSS模型,对天线单元间距、辐射基片切向方向边缘效应对E面和H面互耦影响进行了仿真和分析,结果表明存在临界单元间距值。小于该值时,H面的互耦比E面的严重,反之H面的互耦会随着间距加大而显著下降;对于E面互耦,辐射基片切向方向的介质边缘存在对应最小E面互耦的最佳尺寸,但对于H面互耦,介质边缘效应并不显著。进一步设计了具有典型参数值的实物样品,测试结果验证了上述情况,并表明:介质边缘效应只能改善E面互耦,但对H面互耦的改善需要采用其它方法。

主 题 词：微带天线阵列 互耦 介质边缘效应 双同轴馈电 圆极化 

学科分类：080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.14183/j.cnki.1005-6122.2013.03.020

馆 藏 号：203273328...