矢量调制器测试数据的分析及提数方法设计

作     者：黎剑 Jian Li

作者机构：中国电子科技集团公司第二十九研究所四川成都610036 

出 版 物：《电子科学技术》 (Electronic Science & Technology)

年 卷 期：2014年第1卷第1期

页      码：109-112页

摘      要：为了解决在从测试数据中提取模拟矢量调制器的数字控制数据时所产生的控制精度与测量时间之间的矛盾问题,本文通过对测试数据的分析,提出了通过对粗测数据进行插值后再提数的方法来解决该问题。实测数据表明,本文所设计的方法对模拟矢量调制器的幅相控制数据提取能达到较理想的结果,能有效的解决在工程应用中的问题。

主 题 词：矢量调制器 自动测试 插值 

学科分类：12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程类] 

D　O　I：10.16453/j.issn.2095-8595.2014.01.020

馆 藏 号：203273987...