基于单片机控制的光强测试器的设计

作     者：刘会巧 Liu Huiqiao

作者机构：天津理工大学中环信息学院天津300380 

出 版 物：《数字技术与应用》 (Digital Technology & Application)

年 卷 期：2017年第35卷第8期

页      码：3-4页

摘      要：本文以ATmega8单片机作为控制中心,通过使用光敏电阻对光的灵敏度设计光强测试器。该仪器可以实现测试不同等级的光照强度,并能够显示光照等级,并对无光状态进行报警的功能。

主 题 词：单片机 光敏电阻 光照强度 等级 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1007-9416.2017.08.003

馆 藏 号：203277166...