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基于2个阶段遗传算法的MPRM电路面积与SER折中优化

基于2个阶段遗传算法的MPRM电路面积与SER折中优化

作     者:卜登立 江建慧 罗文浪 Bu Dengli;Jiang Jianhui;Luo Wenlang

作者机构:井冈山大学电子与信息工程学院吉安343009 流域生态与地理环境监测国家测绘地理信息局重点实验室吉安343009 同济大学软件学院上海201804 

基  金:国家自然科学基金(61640412 61432017) 流域生态与地理环境监测国家测绘地理信息局重点实验室资助课题(WE2016012 WE2015013) 江西省自然科学基金(20161BAB202048 20171BAB202010) 江西省教育厅科技计划项目(GJJ160746) 

出 版 物:《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期:2017年第29卷第10期

页      码:1924-1934页

摘      要:随着组合电路对瞬时故障的敏感度不断增加,在进行混合极性Reed-Muller(MPRM)电路优化时有必要将软错误率(SER)作为一个重要约束,并以较高时间效率获得电路面积与SER的合理折中解.为此,提出一种带历史缓冲区的2个阶段遗传算法TPGAHB来进行MPRM电路面积与SER折中优化.TPGAHB采用带历史缓冲区的GA模型,分2个阶段实施面积与SER折中优化.第1阶段以面积为目标进行优化得到面积最优解;第2阶段利用Pareto最优原理量化偏好将面积最优解作为参考解计算MPRM电路解的面积与SER效率因子,并以效率因子为目标进行优化,从而得到面积与SER的合理折中解.对MCNC电路进行优化的结果表明,TPGAHB具有较好的寻优能力,能够以较高时间效率获得较好的面积与SER折中的MPRM电路,对输入数超过14的电路也有较好适用性.

主 题 词:MPRM电路 面积优化 SER优化 遗传算法 Pareto最优 

学科分类:1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 08[工学] 080203[080203] 081304[081304] 0802[工学-机械学] 0813[工学-化工与制药类] 081201[081201] 080201[080201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录:

D O I:10.3969/j.issn.1003-9775.2017.10.019

馆 藏 号:203277825...

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