抗事故包装箱密封结构性能研究

作     者：李娜 张思才 徐伟芳 薛江 LI Na;ZHANG Si-cai;XU Wei-fang;XUE Jiang

作者机构：中国工程物理研究院总体工程研究所绵阳621999 

出 版 物：《包装工程》 (Packaging Engineering)

年 卷 期：2017年第38卷第21期

页      码：1-5页

摘      要：目的为抗事故包装箱密封结构设计提供依据。方法介绍2种抗事故包装箱密封结构的设计,分析经历事故场景后2种密封结构的密封面变形和O形密封圈压缩率变化情况,开展密封性能试验。结果端面密封结构经历事故场景后,O形密封圈压缩率不小于15%时,密封结构检测漏率为环境本底漏率,压缩率降至10%时,漏率明显增加,但仍能达到1μPa·m3/s量级,压缩率降至5%时,密封结构彻底失效。柱面密封结构的联接螺栓即使经历事故场景后全部失效,密封结构的密封性能也基本保持不变,检测漏率为环境本底漏率。结论柱面密封结构抵御事故风险的能力更强。

主 题 词：抗事故包装箱 端面密封 柱面密封 密封性能 漏率 

学科分类：08[工学] 0822[工学-核工程类] 

D　O　I：10.19554/j.cnki.1001-3563.2017.21.001

馆 藏 号：203277954...