着眼未来的 LCD 驱动芯片测试技术

作     者：宗伟 ZONG Wei

作者机构：爱德万测试(苏州)有限公司上海分公司上海201102 

出 版 物：《电子工业专用设备》 (Equipment for Electronic Products Manufacturing)

年 卷 期：2005年第34卷第8期

页      码：48-51页

摘      要：概要:近年来,随着彩屏手机、PDA和家用液晶显示器的推广,国内各大半导体设计公司和生产厂商都开始着眼于LCD相关IC的设计和生产。从测试的角度来讲,高速发展的LCD驱动芯片对其所需要的测试环境也在不断提出更高的要求,着重介绍怎样针对LCD驱动芯片的发展趋势提供评价和量产所需要的测试平台。

主 题 词：RSDS Mini-LVDS MDGT TFT Source Driver 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-4507.2005.08.012

馆 藏 号：203278674...