Wei-Levoy纹理合成算法测试系统的设计与实现

作     者：刘景 

作者机构：河海大学常州校区常州213022 

基　　金：河海大学青年科技基金资助项目 (0 4 B0 0 4 0 1) 

出 版 物：《电脑开发与应用》 (Computer Development & Applications)

年 卷 期：2005年第18卷第1期

页      码：24-26页

摘      要：Wei L evoy算法是一种典型的基于样图的纹理合成算法 ,此算法建立在马尔可夫随机场 (MRF)模型之上 ,具有合成质量较高、合成速度较快、能处理的纹理范围较宽等优点。描述了 Wei L evoy算法测试系统的设计和实现过程 。

主 题 词：纹理合成 算法 测试系统 输入参数 马尔可夫随机场 设计 MRF 优点 描述 典型 

学科分类：08[工学] 080203[080203] 0802[工学-机械学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-5850.2005.01.008

馆 藏 号：203278711...