流体温度变化对反应器中RTD测定的影响分析

作     者：邬勇奇 温正慧 WU Yong-qi;WEN Zheng-hui

作者机构：华中科技大学 

出 版 物：《化工机械》 (Chemical Engineering & Machinery)

年 卷 期：2015年第42卷第2期

页      码：184-187页

摘      要：采用脉冲法测量了搅拌反应器中的流体停留时间分布(RTD),讨论了流体温度变化对停留时间分布的统计特征值及流动模型参数的影响。当实验过程中流体温度升高(或变化),将导致电导率基线发生漂移。实验数据处理发现,这种基线漂移会加大停留时间分布的计算偏差,进一步影响模型参数的计算正确性和反应器设计。消除基线漂移的影响对获得正确的计算结果具有积极作用。

主 题 词：反应器 RTD 温度变化 基线漂移 

学科分类：080706[080706] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.0254-6094.2015.02.007

馆 藏 号：203279149...