一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路的生成系统

作     者：侯立刚 杨扬 叶彤旸 彭晓宏 耿淑琴 HOU Ligang;YANG Yang;YE Tongyang;PENG Xiaohong;GENG Shuqin

作者机构：北京工业大学电子信息与控制工程学院北京100022 

基　　金：北京市自然科学基金(4152004) 国家自然科学基金(61204040) 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2017年第40卷第24期

页      码：5-8页

摘      要：提出一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路生成系统,并以IBM-PLACE测试基准电路为测试试例做了转换实验,提供一套3D测试基准电路。通过此系统,可以根据输入文件的不同,自动转换为对应的Bookshelf库文件或者DEF库文件,实现物理设计库中的电路的互联线网连接信息,标准单元尺寸、端口信息,标准单元坐标信息以及布局信息自动转换。可以将任意2D电路设计转换为3D测试基准电路,并且兼容2D集成电路的物理设计流程,可在传统物理设计EDA工具中布局布线。最终,可以实现自定制的3D测试基准电路。

主 题 词：DEF库 Bookshelf库 测试基准电路 自定制 3D集成电路 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16652/j.issn.1004-373x.2017.24.002

馆 藏 号：203280263...