关于如何规避PCB测试点对半导体器件静电损伤的隐患

作     者：方玉胡 

作者机构：格力电器(合肥)有限公司安徽合肥230088 

出 版 物：《电子产品世界》 (Electronic Engineering & Product World)

年 卷 期：2017年第24卷第12期

页      码：56-57,60页

摘      要：本文主要对控制器在静电损伤故障中,关于设计方面,如何规避静电损伤问题,从PCB的特殊部位入手,通过设计上的改进,规避控制器因半导体器件的布局不合理,进而导致主板半导体失效的问题。从PCB设计着手,通过结合生产流程、安装流程、设备工装等影响因素,从实际出发,大幅减少控制器制造过程中的ESD和EOS问题。

主 题 词：静电 设计 PCB 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-5517.2017.11.015

馆 藏 号：203280737...