数字集成电路老化测试技术

作     者：吕磊 田云 曹韧桩 尹燕恒 

作者机构：公安部第一研究所北京市100048 

出 版 物：《电子技术与软件工程》 (ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING)

年 卷 期：2017年第24期

页      码：98-98页

摘      要：随着大数据时代的悄然而至,集成电路应用的过程中被人们提出了较高要求,为了提升数字集成电路应用的安全性和稳定性,应做好电路老化测试工作,应用先进测试技术提高电路老化测试的准确性。本文首先介绍了电路老化及影响因素,然后分析了具体的测试技术,最后探究了数字集成电路老化测试的结构设计。

主 题 词：数字集成 电路老化 测试技术 设计分析 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203280996...