集成式杜瓦组件真空寿命评测及影响因素分析

作     者：贾卫民 金小群 杨永华 奚予琛 JIA Wei-min;JIN Xiao-qun;YANG Yong-hua;XI Yu-chen

作者机构：中国空空导弹研究院河南洛阳471009 红外探测器技术航空科技重点实验室河南洛阳471009 

基　　金：技术创新基金项目(No.2011D01406) 国防基础科研项目(No.A0520133012)资助 

出 版 物：《激光与红外》 (Laser & Infrared)

年 卷 期：2018年第48卷第1期

页      码：79-82页

摘      要：制冷机集成式金属杜瓦组件已广泛应用于256×256以上规模的红外焦平面阵列器件,杜瓦真空寿命成为制约探测器性能的关键指标。本文针此金属杜瓦组件通用结构,用氦漏率检测、静态热负载测试及高温加速实验等多种方法对杜瓦真空寿命进行了评测,并分析了影响杜瓦真空寿命的主要因素,对金属杜瓦研究具有实际意义。分析表明,真空寿命的主要影响因素包括漏气和放气,制造工艺改进可将金属杜瓦漏气控制在设计指标内,金属杜瓦内部放气可通过真空烘烤、安装吸气剂等方法消除,研制的杜瓦组件经验证真空存储寿命超过12年。

主 题 词：真空寿命 集成式杜瓦组件 金属杜瓦 热负载 加速寿命试验 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0803[工学-仪器类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-5078.2018.01.014

馆 藏 号：203281998...