SRAM-FPGA抗单粒子翻转方法和预估

作     者：郭强 刘波 司圣平 刘辉 蒋应富 张恒 GUO Qiang;LIU Bo;SI Shengping;LIU Hui;JIANG Yingfu;ZHANG Heng

作者机构：上海航天技术研究院上海201109 上海卫星工程研究所上海201109 

出 版 物：《西安电子科技大学学报》 (Journal of Xidian University)

年 卷 期：2018年第45卷第1期

页      码：112-116页

摘      要：为解决卫星通信系统中赛灵思公司的静态随机存储器型现场可编程门阵列(Xilinx SRAMFPGA)单粒子翻转问题,提出了一种占用硬件资源少,可靠度高的抗单粒子方法.该方法使用爱特公司的现场可编程门阵列作为检测芯片,可编程只读存储器芯片存储屏蔽位文件,通过联合测试工作组模式回读Xilinx FPGA配置文件并进行校验,发现出错则重新加载配置文件,消除单粒子翻转影响.该方法已成功在轨应用于某卫星通信系统.为计算卫星通信系统的可靠度,提出使用品质因数方法预估静态随机存储器型现场可编程门阵列单粒子翻转率,并与在轨实测数据进行比较,证明使用该方法的正确性,同时计算出实际飞行轨道的单粒子翻转率系数,为其他静态随机存储器型现场可编程门阵列、存储器等芯片的单粒子翻转率预估提供数据支撑,为我国卫星通信系统可靠性研究与设计提供参考.

主 题 词：静态随机存储器型现场可编程门阵列 单粒子翻转 抗单粒子翻转方法 单粒子翻转率预估 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0825[工学-环境科学与工程类] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-2400.2018.01.020

馆 藏 号：203282029...