双极器件和光电器件辐射效应飞行验证分析

作     者：郭征新 瞿华 周东方 GUO Zheng-xin;QU Hua;ZHOU Dong-fang

作者机构：山东航天电子技术研究所烟台264000 

出 版 物：《空间电子技术》 (Space Electronic Technology)

年 卷 期：2017年第14卷第6期

页      码：33-38页

摘      要：为验证元器件在空间综合环境特别是真实辐射环境下的可用性,需要开展在轨飞行验证。文中就双极器件和光电器件辐射效应的在轨飞行验证进行了分析,重点分析研究了器件特征参数选择、特征参数测试电路、飞行验证测试系统模块设计等基本思路,并就关键技术难点提出了初步解决建议,为国产元器件飞行验证提供一种参考。

主 题 词：双极器件 光电器件 飞行验证 测试系统 

学科分类：08[工学] 082503[082503] 0825[工学-环境科学与工程类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-7135.2017.06.005

馆 藏 号：203282132...