高可靠固态厚膜熔断器耐脉冲能力研究

作     者：张义 彭昌文 王征 陈德舜 张希涛 武志新 ZHANG Yi;PENG Changwen;WANG Zheng;CHEN Deshun;ZHANG Xitao;WU Zhixin

作者机构：中国空间技术研究院北京100094 中国振华集团云科电子有限公司贵州贵阳550018 

出 版 物：《电子元件与材料》 (Electronic Components And Materials)

年 卷 期：2018年第37卷第3期

页      码：58-63页

摘      要：熔断器在经受一定循环次数脉冲电流冲击后会产生寿命疲劳,进而发生产品熔断失效。选取航天器用高可靠固态厚膜熔断器作为典型品种,开展高可靠固态厚膜熔断器的耐脉冲能力研究,将影响熔化热能I^2t值的峰值电流和脉冲冲击时间作为变化因子设计不同的试验条件,对试验结果及数据进行系统、深入地分析,得到了高可靠固态厚膜熔断器在不同脉冲I^2t值下降额使用因子和关系曲线,为后续航天型号任务选用该结构熔断器提供借鉴。

主 题 词：高可靠固态厚膜熔断器 脉冲次数 I2t 冷态电阻 变化因子 关系曲线 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.03.011

馆 藏 号：203284390...