基于STM32F4的绝缘耐压测量系统的设计

作     者：张淑杰 程武山 Zhang Shujie;Cheng Wushan

作者机构：上海工程技术大学机械工程学院上海201620 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2018年第26卷第3期

页      码：43-45,49页

摘      要：绝缘电阻和耐压强度是评价电力设备绝缘状态的重要指标;通过结合Cortex-M4系列的STM32F4xx设计了绝缘耐压一体化测量系统;通过上位机程序实现不同通道的切换,从而实现不同测量模式的切换,进而实现被测对象绝缘电阻和耐压强度的测量;通过RS232串口将测量得到的结果上传到上位机,分析处理得到的数据,从而能准确的判断设备的绝缘状态;给出了绝缘耐压测量的基本原理、测量公式以及软硬件的实现方法,并通过硬件测试、软件测试以及系统整体调试,验证了系统运行的稳定性和可靠性;对实现测量的自动化具有重要的意义,同时对绝缘耐压的研究具有一定的价值。

主 题 词：Cortex-M4 STM32F4xx 耐压测试 绝缘电阻测试 A/D 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2018.03.012

馆 藏 号：203284755...