基于最小二乘拟合的科学级CMOS传感器非均匀性校正

作     者：闫苏琪 杨世洪 王明富 洪裕珍 YAN Su-qi;YANG Shi-hong;WANG Ming-fu;HONG Yu-zhen

作者机构：中国科学院光电技术研究所四川成都610209 中国科学院大学北京100049 

出 版 物：《电子设计工程》 (Electronic Design Engineering)

年 卷 期：2018年第26卷第7期

页      码：151-155页

摘      要：鉴于图像传感器普遍存在非均匀性问题,本文提出了一种基于最小二乘法的分段线性插值的非均匀校正算法。该算法结合了最小二乘拟合法以及分段线性校正方法的优点,在大场景动态范围内都可实现良好的校正效果。采用科学级CMOS为实验对象,经本文提出的算法校正后,在整个工作照度范围下非均匀度相比原始图像可降低约42%。并与几种经典校正算法进行对比分析,结果表明该校正算法可适应的场景动态范围更大,在整个工作照度环境下可得到更好的平均校正效果。

主 题 词：科学级CMOS传感器 非均匀性校正 最小二乘法 分段线性插值算法 

学科分类：0711[理学-心理学类] 07[理学] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-6236.2018.07.034

馆 藏 号：203285572...