白光扫描干涉仪用于保偏光纤偏振耦合检测

作     者：张红霞 张以谟 贾大功 唐峰 ZHANG Hong-xia;ZHANG Yi-mo;JIA Da-gong;TANG Feng

作者机构：天津大学精密仪器与光电子工程学院天津300072 光电信息技术科学教育部重点实验室(天津大学)天津300072 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60577013) 973计划资助项目(2003CB314907) 新世纪优秀人才支持计划 天津大学青年教师基金资助项目 

出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)

年 卷 期：2007年第36卷第3期

页      码：305-308页

摘      要：采用白光扫描干涉法,利用Michelson干涉仪中移动臂的移动补偿保偏光纤中产生的光程差,从而实现对保偏光纤绕组中偏振耦合点的耦合强度及空间位置分布的有效检测。分析了白光干涉仪的原理、结构以及干涉条纹特点,进行了保偏光纤环的扫描测量。结果表明,第一个保偏光纤环的质量优于其他各环,证明了仪器设计理论和实验结果相符。

主 题 词：保偏光纤 偏振耦合 白光干涉仪 保偏光纤环扫描 

学科分类：0808[工学-自动化类] 080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0802[工学-机械学] 0825[工学-环境科学与工程类] 0704[理学-天文学类] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1007-2276.2007.03.005

馆 藏 号：203286144...