功率VDMOS器件热阻测试

作     者：单长玲 许允亮 刘琦 田欢 刘金婷 SHAN Chang-ling;XU Yun-liang;LIU Qi;TIAN Huan;LIU Jinting

作者机构：西安卫光科技有限公司陕西西安710065 

出 版 物：《机电元件》 (Electromechanical Components)

年 卷 期：2018年第38卷第2期

页      码：47-49页

摘      要：功率VDMOS器件的热阻,是衡量输入功率与工作环境热特性的重要参数,在器件研制和系统设计中占有重要地位。从器件的热模型出发,给出了热阻的测试方法。针对二极管正向压降测试所需要的温度系数,分析了数据处理方法,给出提高温度系数计算精度的途径。结合热电偶测量原理,给出了提高热电偶测量精度的方法。所涉及的热阻测量方法,能够为热阻的高精度测量提供基础。

主 题 词：功率VDMOS器件 热特性 热阻 可靠性 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-6133.2018.02.011

馆 藏 号：203287422...