12 bit 30 MSPS逐次比较型ADC的测试

作     者：杨云帆 赵雷 周圣智 刘建峰 刘树彬 安琪 YANG Yunfan;ZHAO Lei;ZHOU Shengzhi;LIU Jianfeag;LIU Shubin;AN Qi

作者机构：核探测与核电子学国家重点实验室中国科学技术大学合肥230026 中国科学技术大学近代物理系合肥230026 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(11722545) 中国科学院知识创新工程重要方向性项目(KJCX2-YW-N27)~~ 

出 版 物：《原子核物理评论》 (Nuclear Physics Review)

年 卷 期：2018年第35卷第1期

页      码：46-52页

摘      要：针对物理实验读出的需求设计了一款低功耗12 bit 30 MSPS逐次比较型模数变换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)芯片,为评估其性能指标参数,需进行系统的测试。在本研究工作中构建了测试系统,然后按照IEEE标准进行了系统的测试和分析。测试结果表明,输入信号在基带范围内ADC有效位(Effective Number Of Bit,ENOB)约为9 bit,达到了本版本芯片的设计指标。同时,综合分析静态性能与动态性能测试结果,可以通过优化逐次比较型ADC中电容阵列电容失配参数,进一步提升ADC的非线性指标,为下一版芯片的改进设计提供了参考依据。

主 题 词：模数转换器 逐次比较 动态性能测试 静态性能测试. 

学科分类：08[工学] 082701[082701] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.11804/NuclPhysRev.35.01.046

馆 藏 号：203287567...