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GE智能平台针对严苛的仿真、过程控制和数据采集应用推出反射内存节点卡

GE智能平台针对严苛的仿真、过程控制和数据采集应用推出反射内存节点卡

出 版 物:《测控技术》 (Measurement & Control Technology)

年 卷 期:2011年第30卷第2期

页      码:119-119页

摘      要:GE智能平台宣布推出半高卡PCIE-5565PIORC PCI Express反射内存节点卡,进一步扩充了GE的RFM5565反射内存解决方案阵容,也体现了GE在该技术上的广泛经验。半高卡PCIE-5565PIORC的设计除面向仿真与培训、工业过程控制和数据流与采集等实时应用,还可以满足各种商业、电信和军事以及航空航天应用对高可用性冗余的需求。这种应用通常需要以确定性的高速率传输和共享数据,而在很多情况下符合该环境的解决方案就是反射内存。

主 题 词:工业过程控制 反射内存 实时应用 智能平台 数据采集 GE 仿真 节点 

学科分类:08[工学] 0802[工学-机械学] 0835[0835] 080201[080201] 

馆 藏 号:203287587...

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