真空环境下C形密封圈力学性能和泄漏率的有限元分析

作     者：张伟政 席喜林 丁雪兴 李水平 ZHANG Weizheng;XI Xilin;DING Xuexing;LI Shuiping

作者机构：兰州理工大学石油化工学院甘肃兰州730050 

基　　金：甘肃省自然基金资助项目(145RJA083) 

出 版 物：《机械设计与制造工程》 (Machine Design and Manufacturing Engineering)

年 卷 期：2018年第47卷第4期

页      码：33-38页

摘      要：利用大型非线性有限元软件Marc建立了C形密封圈(简称C形圈)三维有限元模型,用单轴拉伸试验确定了C形圈材料聚四氟乙烯的参数。介绍了C形圈密封机理以及泄漏通道的形成机理。重点分析了介质压力对C形圈主材料聚四氟乙烯的最大Von Mises应力的影响以及C形圈压缩率和介质压力对C形圈主材料聚四氟乙烯接触应力的影响。同时,利用罗思·A密封理论分析了C形圈压缩率以及密封件表面粗糙度对C形圈泄漏率的影响。研究表明:当介质压力增大时,C形圈聚四氟乙烯部分的最大Von Mises应力整体是增大的;随着C形圈压缩率和介质压力的增大,C形圈聚四氟乙烯部分的接触应力也在增大;C形圈的泄漏率随着压缩率的增加而减小,随着密封件表面粗糙度的增大而增大。

主 题 词：C形圈 Von Mises应力 接触应力 泄漏率 

学科分类：08[工学] 0802[工学-机械学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.2095-509X.2018.04.007

馆 藏 号：203287612...