双界面智能卡芯片中“盲区问题”的分析与解决

作     者：陈俊 万培元 林平分 

作者机构：北京市嵌入式系统重点实验室北京100124 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2012年第21卷第4期

页      码：38-42页

摘      要：本论文针对13.56MHz双界面智能卡芯片(通信标准遵循ISO/IEC14443 type A)在非接模式下的中间场强(3A/m-6A/m)中出现的交互失败(盲区问题)进行了测试和分析,并对以前芯片中的模拟前端部分的限幅器和电源模块重新进行电路和版图设计。论文中该芯片采用SMIC 0.18μm CMOS eflash工艺进行设计与仿真,并流片验证。

主 题 词：双界面智能卡 ISO/IEC14443 整流器 限幅器 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2012.04.059

馆 藏 号：203288247...