光电探测电路噪声分析与Pspice仿真

作     者：张子儒 丁雷 张冬冬 Zhang Ziru;Ding Lei;Zhang Dongdong

作者机构：中国科学院大学北京100049 中国科学院上海技术物理研究所上海200083 中国科学院红外探测与成像技术重点实验室上海200083 

基　　金：中科院战略性先导科技专项项目(XDA15012200) 中科院上海技术物理研究所创新专项(CX-22) 

出 版 物：《电子测试》 (Electronic Test)

年 卷 期：2018年第29卷第9期

页      码：8-10页

摘      要：光电探测电路的设计会直接影响到光电探测系统的性能。对光电探测电路中光电二极管模型和前置跨阻放大电路进行了分析,针对光电探测电路中噪声来源,进行了详细分析并给出了其计算公式,基于实验元器件参数,计算了电路输出总噪声和信噪比。在Pspice上对前置跨阻放大电路进行了建模和仿真,分析了光电探测电路的时域特性、频域特性和噪声特性,通过参数扫描模块,分析了反馈电容对电路特性的影响,通过噪声分析模块,分析了电路噪声特性,并得到了系统等效噪声功率。

主 题 词：光电探测 PIN光电二极管 前置跨阻放大 Pspice仿真 

学科分类：08[工学] 0803[工学-仪器类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-8519.2018.09.002

馆 藏 号：203289125...