市场发展的趋势:高整合度SOC的测试

作     者：张伦嘉 

作者机构：安捷伦科技有限公司半导体测试事业部 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2004年第29卷第4期

页      码：J002-J004页

主 题 词：SOC IC测试 DFT ATPG 可测性设计 自动测试仪 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.13290/j.cnki.bdtjs.2004.04.001

馆 藏 号：203293865...