一种新的低功耗BIST测试生成器设计

作     者：陈卫兵 

作者机构：阜阳师范学院物理系阜阳236032 

出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)

年 卷 期：2004年第11期

页      码：62-63页

摘      要：文章提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的BIST测试生成器设计方案,该方案在原始线性反馈移位寄存器的基础上添加简单的控制逻辑电路,对LFSR的输出和时钟进行调整,从而得到了准单输入跳变的测试向量集,使得待测电路的平均功耗大大降低。由于该设计方案比其它LPTPG方案的面积开销小,从而具有更好的使用价值。

主 题 词：测试生成 BIST 功耗 故障覆盖率 线性反馈移位寄存器 测试向量 LFSR 开销 时钟 输入 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-0107.2004.11.025

馆 藏 号：203294203...