模拟电路可测拓扑条件和可测性分析及可测性设计

作     者：孙义闯 何怡刚 

作者机构：英国Hertford shire大学工程与信息科学学院电子通讯与电气工程系 湖南大学电气与信息工程学院湖南长沙410082 

基　　金：家自然科学基金资助 (594 770 0 2 ) 湖南省自然科学基金 (N o.98JJY2 0 3 8) 高等学校骨干教师资助计划项目 (教文 [2 0 0 0 ] 6 5号 )资助 

出 版 物：《湖南大学学报（自然科学版）》 (Journal of Hunan University:Natural Sciences)

年 卷 期：2002年第29卷第1期

页      码：85-92页

摘      要：深刻地阐述了系统的可测性问题 ,提出了从可测性分析和可测性设计两方面进行研究的观点 .针对支路故障诊断法 ,讨论了可测拓扑条件、可测性分析和可测性设计问题 ,提出了几个新的必要且几乎充分可测拓扑条件 。

主 题 词：模拟电路 故障诊断 可测性分析 可测性设计 可测拓扑条件 拓扑结构 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1000-2472.2002.01.017

馆 藏 号：203294623...