一种基于总线复用的SoC功能测试结构设计

作     者：虞致国 魏敬和 罗静 YU Zhi-guo;WEI Jing-he;LUO Jing

作者机构：中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 

出 版 物：《中国电子科学研究院学报》 (Journal of China Academy of Electronics and Information Technology)

年 卷 期：2008年第3卷第5期

页      码：520-523,528页

摘      要：由于SoC结构的复杂性,必须考虑采用多种可测性设计策略。从功能测试的角度出发,提出了一种基于复用片内系统总线的可测性设计策略,使得片内的各块电路都可被并行测试。阐述了其硬件实现及应用测试函数编写功能测试矢量的具体流程。该结构硬件开销小,测试控制过程简单,可减小测试矢量规模,已应用到一种基于X8051核的智能测控SoC,该SoC采用0.35μm工艺进行了实现,面积为4.1 mm×4.1 mm,测试电路的面积仅占总面积的2%。

主 题 词：可测性设计 功能测试 系统总线 系统芯片 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1673-5692.2008.05.018

馆 藏 号：203295033...