高可靠DC-DC混合电源长寿命评价技术研究

作     者：李晓红 罗俊 邱忠文 胡波 邹华昌 邓永芳 LI Xiaohong;LUO Jun;QIU Zhongwen;HU Bo;ZOU Huachang;DENG Yongfang

作者机构：中国电子科技集团公司第二十四研究所重庆400060 西安电子科技大学微电子学院西安710071 

出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)

年 卷 期：2012年第42卷第1期

页      码：138-140页

摘      要：随着科学技术的发展、设计和制造水平的大幅度提高,高可靠长寿命DC-DC混合电源产品在军事及航空航天领域应用越来越广泛,如何预测其寿命是值得深入研究的重要问题。采用加速退化试验方法,对一款高可靠DC-DC混合电源进行可靠性评价与寿命预测。此研究成果对解决高可靠性电源产品的可靠性保证和寿命预测问题具有很好的工程意义。

主 题 词：高可靠性 长寿命 可靠性评估 加速退化试验 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-3365.2012.01.033

馆 藏 号：203295221...