增强组合电路脉冲窄化效应的软错误率优化布局方法

作     者：刘畅 贺旭 梁斌 郭阳 Liu Chang;He Xu;Liang Bin;GuoYang

作者机构：国防科技大学计算机学院长沙410073 湖南大学信息科学与工程学院长沙410082 

基　　金：国家自然科学基金(61133007 61402505 61772540) 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2018年第30卷第6期

页      码：1158-1165页

摘      要：为了提高芯片抗辐照性能,提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法.首先减少已有quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应;然后通过插入和交换操作增加电路中quenching单元对数量,以提高电路发生脉冲窄化效应的概率;最后实现了一个组合电路软错误率优化布局及评估平台,可自动地完成布局及软错误率评估.模拟结果表明,该方法可以减小最终被捕获的脉冲宽度,减少14%~26%的软错误率.

主 题 词：软错误率 电荷共享效应 脉冲窄化效应 单粒子瞬态 详细布局方法 软错误率评估 

学科分类：08[工学] 080203[080203] 0802[工学-机械学] 

核心收录：

D　O　I：10.3724/SP.J.1089.2018.16631

馆 藏 号：203296341...