高精度简易频率特性测试系统设计

作     者：梁志勋 闭吕庆 LIANG Zhi-xun;BI Lv-qiang

作者机构：河池学院智能计算与模式识别重点实验室宜州546300 玉林师范学院电子与通信工程学院玉林537000 

基　　金：复杂系统优化与大数据处理广西高校重点实验室科研课题资助(No.2017CSOBDP0103) 

出 版 物：《现代计算机》 (Modern Computer)

年 卷 期：2018年第24卷第7期

页      码：73-76页

摘      要：设计一种高精度的简易频率特性测试仪,该简易测试仪采用单片机STM32F104作为主控制器,控制DDS芯片AD9854产生扫频信号,采用AD8367设计扫频信号的增益自动控制电路,实现扫频频带内起伏不大于0.1dB,利用AD8302将幅度增益和相位转换成电压信号,利用单片机STM2F104内部集成AD完成各个频点的幅度增益和相位信号采集,并通过示波器显示屏显示幅频、相频特性曲线。搭建一阶、二阶RC无源滤波器和低频放大器作为测试用的二端电路网络,经实验测试结果分析表明,所设计系统能够精确完成二端电路网络0MHz至100MHz范围频率响应特性测试,分辨率高达4096个频点。

主 题 词：AD9854 频率特性测试 二端电路网络 STM32单片机 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1007-1423.2018.10.018

馆 藏 号：203305009...