基于单片机的时序测试系统设计

作     者：王琪 章文晋 李建宏 Wang Qi;Zhang Wenjin;Li Jianhong

作者机构：北京航空航天大学可靠性与工程系统学院 93413部队 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2015年第38卷第4期

页      码：74-77页

摘      要：针对某特殊应用条件下的时序测试需求,设计了一套基于单片机的测试系统,系统以STC12C2052单片机作为测试的基础硬件,完成逻辑控制、数据采集以及数据处理、测试结果传输等功能,具有结构简单、体积小、性价比高等特点。上位机部分的软件基于VC++6.0设计,主要完成测试数据存储和显示功能。单片机与上位机间通过串口进行通信,经实验证明该系统的测试结果误差较小,工作稳定,完全能够满足实际测试需要,结合上位机能方便的进行历史数据查看和时序波形对比。

主 题 词：单片机 测试 数据采集 

学科分类：08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-7300.2015.04.018

馆 藏 号：203305078...