基于智能卡操作系统的测试系统设计

作     者：宋莉莉 陈君 SONG Lili;CHEN Jun

作者机构：上海复旦微电子集团股份有限公司上海200433 

出 版 物：《集成电路应用》 (Application of IC)

年 卷 期：2018年第35卷第7期

页      码：67-70页

摘      要：在智能卡操作系统开发过程中,要遵循软件工程的要求。测试是其中的重要环节。在介绍智能卡操作系统的体系结构基础上,根据COS的特点给出了智能卡测试系统设计方案,并且该测试系统在实践中得到了很好的应用。具有较高的实用价值。

主 题 词：集成电路测试 智能卡操作系统 测试用例 测试脚本 测试库 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19339/j.issn.1674-2583.2018.07.018

馆 藏 号：203305095...