基于蒙特卡罗方法的XRF探测器立体角分析

作     者：刘合凡 葛良全 谢希成 赵剑锟 罗耀耀 LIU Hefan;GE Liangquan;XIE Xicheng;ZHAO Jiankun;LUO Yaoyao

作者机构：成都理工大学地学核技术四川省重点实验室成都610059 

基　　金：国家863计划项目(No.2012AA061803) 国家自然科学基金(No.41074093)资助 

出 版 物：《核技术》 (Nuclear Techniques)

年 卷 期：2015年第38卷第6期

页      码：78-82页

摘      要：为研究探测器立体角在X射线荧光(X-ray fluorescence,XRF)分析仪的设计对测量结果的影响,运用蒙特卡罗方法对XRF仪进行建模。结果表明,探测器脉冲计数随着探测器与样品之间距离的增大指数衰减;随着探测器立体角的增大,特征峰计数非线性增大,源峰探测效率指数递减;探测器本征探测效率与探测器立体角无关。本文研究方法和结论可为一些XRF仪的设计提供参考。

主 题 词：探测器立体角 X荧光分析 蒙特卡罗方法 拟合优度 

学科分类：082704[082704] 081704[081704] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-轻工类] 0807[工学-电子信息类] 070302[070302] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 1009[医学-法医学类] 0702[理学-物理学类] 0801[工学-力学类] 

核心收录：

D　O　I：10.11889/j.0253-3219.2015.hjs.38.060502

馆 藏 号：203305106...