基于C8051F410数字集成电路测试仪的设计

作     者：于维佳 Yu Weijia

作者机构：柳州铁道职业技术学院电子技术学院广西柳州545007 

出 版 物：《电子测试》 (Electronic Test)

年 卷 期：2014年第25卷第3X期

页      码：10-11页

摘      要：开发了一种数字集成电路测试仪,该测试仪以C8051F410微控制器为核心,用户可针对不同待测芯片来选择+3.3V或+5V电源供电,操作界面与测试结果通过液晶显示屏进行人机交互,能够对常用的74系列数字集成电路芯片进行快速、稳定的功能性测试。

主 题 词：数字集成电路 测试仪 C8051F410 液晶显示 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203305891...